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    當前位置:首頁產品中心高低溫試驗箱冷熱沖擊試驗箱半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱
    半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱

    產品簡介

    半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱是一種具有溫度控制功能的設備,通過快速改變溫度來模擬芯片在不同環境下的工作狀態。它可以迅速將芯片從較低溫度迅速加熱到較高溫度,或者相反。這種溫度的迅速變化可以導致材料的膨脹和收縮,從而引發物理和化學性質的改變。

    產品型號:
    更新時間:2025-02-05
    廠商性質:生產廠家
    訪問量:2300
    詳細介紹在線留言

    半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱是一種具有溫度控制功能的設備,通過快速改變溫度來模擬芯片在不同環境下的工作狀態。它可以迅速將芯片從較低溫度迅速加熱到較高溫度,或者相反。這種溫度的迅速變化可以導致材料的膨脹和收縮,從而引發物理和化學性質的改變。通過在冷熱沖擊箱中進行長時間的測試,科學家們可以模擬芯片在不良條件下的工作情況,以便評估其性能和可靠性。

    在冷熱沖擊箱中進行的測試通常包括冷凍、加熱和恒溫三個階段。首先,芯片會被暴露在較低溫度的環境中,來模擬在寒冷的氣候下工作時的情況。然后,溫度會迅速上升到較高的水平,來測試芯片在高溫環境下的穩定性和性能。至后,在恒溫條件下進行長時間測試,來模擬芯片在常溫環境下的工作情況。通過這一系列的測試,科學家們可以綜合評估芯片在不同溫度下的性能和可靠性,為電子設備的開發和制造提供重要的參考依據。


    規格技術參數:


     型號:BY-260D

     ①規格(容量):63升

     測試區尺寸:400*350*350(W*D*Hmm)

     外形尺寸(約):1500*1450*1900(W*D*Hmm)

     ②規格(容量):80升

     測試區尺寸:500*400*400(W*D*Hmm)

     外形尺寸(約):1600*1500*2000(W*D*Hmm)

     ③規格(容量):150升

     測試區尺寸:600*500*500(W*D*Hmm)

     外形尺寸(約):1700*1600*2000(W*D*Hmm)

     ④規格(容量):225升

     測試區尺寸:500*600*750(W*D*Hmm)

     外形尺寸(約):1800*1800*2000(W*D*Hmm)

     ⑤規格(容量):500升

     測試區尺寸:800*800*800(W*D*Hmm)

     外形尺寸(約):2600*1900*2000(W*D*Hmm)

     ⑥規格(容量):1000升

     測試區尺寸:1000*1000*1000(W*D*Hmm)

     外形尺寸(約):2800*2000*2200(W*D*Hmm)

     高溫儲熱范圍:+60℃--+200℃

     低溫儲冷范圍:-10℃~-55℃(A型),-10℃~-65℃(B型),-10℃~-75℃(C型)

     試驗范圍:

     高溫:+60℃~+150℃

     低溫:-10℃~-40℃(A型);-10℃~-55℃(B型);-10~-60℃(C型)

     升溫時間:+60℃~+200℃約需25min

     降溫時間:+20℃~-55℃小于60min;+20℃~-65℃小于75min;+20℃~-75℃小于90min;

     風門切換時間:小于或等于10S

     溫度恢復時間:5min

     溫度波動:±0.5℃

     溫度偏差:±2℃

     免費送貨上門,并安裝調試操作介紹,同時進行機器操作技術培訓。(直到需方員工獨立操作并滿意為止)。

     本產品符合GB/T2423.1.2GB10592-89GJB150等國家標準。


    溫度程控器:7寸液晶數顯觸摸屏控制器。

       a.控制器規格:精度:±0.1℃+1digit.分辨率:±0.1.

       具有上下限待機及警報功能.

       溫度入力信號:T型感溫線.P.I.D控制參數設定,P.I.D自動演算.

       b.畫面顯示功能:采用圖控軟件畫面對談式,無須按鍵輸入,屏幕直接觸摸選項:

       包括程序設定、曲線顯示、歷史數據、手動運轉、自動運轉、輔助設定等.

       可顯示目前執行狀態、溫度設定值、時間設定值、剩余時間、剩余循環次數

       具單獨程序編輯畫面,可輸入溫度,時間及循環次數.

       溫度程序具實時顯示程序曲線執行功能

       顯示故障狀態及說明故障排除方法

       屏幕可作背光調整,屏幕顯示保護功能可作定時,關閉設定.

       中、英文可相互切換.

       c.程序容量及控制功能:

       可使用的程序組:120個PATTEN。

       可重復執行命令:可達999次。LSEGMENTS時間設定0~99Hour59Min。

       程序之制作采對談式設定功能。

       9組程序相互連接功能.

       具有斷電程序記憶,復電后自動啟動并接續執行程序功能。

       高低溫沖擊時自動補償溫度功能.

       程序執行時可實時顯示圖形曲線。

       除霜時間、次數及除霜溫度設定及執行功能.

       具有預約啟動及關機功能.

       具有日期,時間調整功能.


    半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱主要配置:

      1、內箱材質采用SUS304不銹鋼板,外箱材質采用SEEC鋼板外加靜電噴涂或不銹鋼拉絲板,增加外觀質感及潔凈度,造型美觀大方。

      2、箱體保溫層采用高強度PU及保溫棉,達到優良的保溫效果。

      3、試驗箱配置50mm,測試孔,配發泡硅膠塞密封,可外接測試電源線或信號線使用。

      4、機器底部采用高品質可固定式PU活動輪,附水平腳。

      5、7英寸溫濕度控制器,具有操作簡單,易學,控制精度高,PID模式,可10%以上。

      6、可以獨立設定高溫、低溫、冷熱沖擊三種不同條件,具備高低溫試驗機的功能。

      7、可設定循環次數及除霜次數自動(手動)除霜.出風口于回風口感知器檢測控制,風門機構切換時間為10秒內完成。

      8、具備全自動,高精密系統回路、任一機件動作,*有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動演算控制。

      9、溫度恢復時間為5分鐘內完成。

      10、運轉中發生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障原因,并于發現輸入電力不穩定時,具有緊急停機裝置。

      11、可選配USB接口存儲方便,到有標準的RS-232或RS-485計算機通訊接口。實現遠程控制。




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